11835 - Field-Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) - Technische Universiteit Delft
Technische Universiteit Delft TenderNed
AI Samenvatting
De Technische Universiteit Delft zoekt een leverancier voor een geavanceerde field-emission scanning electron microscope (FE-SEM) ter waarde van €1.000.000, inclusief btw. Deze microscoop is essentieel voor het ondersteunen van coherente diffractie-imaging in zowel transmissie- als reflectiemodi. De aanbesteding richt zich op het leveren van een instrument dat voldoet aan strenge prestatiecriteria, zoals hoge temporele en ruimtelijke coherentie, compatibiliteit met grote monsters en de mogelijkheid om aangepaste detectors te integreren.
Voor deze opdracht zijn vaardigheden en technologieën op het gebied van electronenmicroscopie, optica en metrologie van belang. De leverancier moet ook ervaring hebben met de productie, verpakking, verzending, installatie en het uitvoeren van site-acceptatietests. Dit biedt een interessante kans voor BI- en datafreelancers, aangezien de opgedane kennis en ervaring in deze high-tech omgeving kan bijdragen aan hun expertise in data-analyse en beeldverwerking. Bovendien kan de samenwerking met een vooraanstaande onderzoeksinstelling zoals TU Delft waardevolle netwerkmogelijkheden en referenties opleveren.
Voor deze opdracht zijn vaardigheden en technologieën op het gebied van electronenmicroscopie, optica en metrologie van belang. De leverancier moet ook ervaring hebben met de productie, verpakking, verzending, installatie en het uitvoeren van site-acceptatietests. Dit biedt een interessante kans voor BI- en datafreelancers, aangezien de opgedane kennis en ervaring in deze high-tech omgeving kan bijdragen aan hun expertise in data-analyse en beeldverwerking. Bovendien kan de samenwerking met een vooraanstaande onderzoeksinstelling zoals TU Delft waardevolle netwerkmogelijkheden en referenties opleveren.
Volledige omschrijving
The Department of Imaging Physics at TU Delft, Faculty of Applied Sciences, has available funding of
€1,000,000.—incl. VAT through the Dutch Research Council (NWO) Knowledge and Innovation Covenant
(KIC) consortium “Foundations for Electron-Beam Metrology and Inspection” for the acquisition of advanced
electron microscopy instrumentation. The intended purchase is a high-end field-emission scanning electron
microscope (FE-SEM) to support coherent diffractive imaging in both transmission and reflection
geometries. The instrument must meet the following critical performance criteria:
• High temporal and spatial coherence at accelerations voltages up to 30 keV and probe currents of
25–100 pA.
• Compatibility with bulk samples exceeding 70 × 70 mm, with multiple secondary and back-scattered
electron detectors in reflection mode.
• Stable stage and flexible chamber design to accommodate custom detectors and electro-optical
components in reflection mode.
• Support for direct-electron detectors in transmission (preferably retractable), with sufficient
resolution inside the bright-field disk to enable diffractive imaging algorithms. This requires a large
camera length and convergence angles exceeding 10 mrad at 30 keV.
The subject of this tender includes:
• All components, requirements, and requested specifications.
• Production;
• Packaging;
• Freight and shipping (DPP Incoterms 2020);
• Installation;
• Site acceptance test and test reports;
• User manual and documentation;
• Staff training
€1,000,000.—incl. VAT through the Dutch Research Council (NWO) Knowledge and Innovation Covenant
(KIC) consortium “Foundations for Electron-Beam Metrology and Inspection” for the acquisition of advanced
electron microscopy instrumentation. The intended purchase is a high-end field-emission scanning electron
microscope (FE-SEM) to support coherent diffractive imaging in both transmission and reflection
geometries. The instrument must meet the following critical performance criteria:
• High temporal and spatial coherence at accelerations voltages up to 30 keV and probe currents of
25–100 pA.
• Compatibility with bulk samples exceeding 70 × 70 mm, with multiple secondary and back-scattered
electron detectors in reflection mode.
• Stable stage and flexible chamber design to accommodate custom detectors and electro-optical
components in reflection mode.
• Support for direct-electron detectors in transmission (preferably retractable), with sufficient
resolution inside the bright-field disk to enable diffractive imaging algorithms. This requires a large
camera length and convergence angles exceeding 10 mrad at 30 keV.
The subject of this tender includes:
• All components, requirements, and requested specifications.
• Production;
• Packaging;
• Freight and shipping (DPP Incoterms 2020);
• Installation;
• Site acceptance test and test reports;
• User manual and documentation;
• Staff training